Hãng sản xuất: CEM

Model: DT-157

Đặc điểm:

- Đo độ dày lớp phủ không từ tính trên nền kim loại nhiễm từ hoặc không nhiễm từ.
- Dễ dàng sử dụng bởi phương pháp hoạt động trực quan.
- Hai chế độ đo: Đo liên tục hoặc đo 1 lần.
- Hiển thị: giá trị trung bình, cao nhất, thấp nhất, số lần đo, độ lệch chuẩn
- Hai chế độ làm việc: Chế độ làm việc nhóm hoặc trực tiếp.
- Âm báo giá trị cao và thấp cho tất cả các chế độ làm việc
- Dễ dàng hiệu chỉnh vể zero.
- Tự động phát hiện bề mặt đo (từ tính hoặc không từ tính)
- Bộ nhớ trong lưu 2500 giá trị (50/nhóm)
- Dễ dàng xóa dữ liệu đo nhóm và trực tiếp.
- Có thể tắt chức năng tự động tắt.
- Chế độ báo lỗi.
- Dễ dàng truyền dữ liệu vào máy tính qua cổng USB.
- Hiệu chỉnh cho bất kỳ chế độ làm việc độc lập nào.
- Màn hình hiển thị thống kê: AVG, MAX, MIN, NO., S.DEV

Thông số kỹ thuật

- Khoảng đo: 0 - 2000 um

- Độ chính xác: (+/-2% + 2) um

- Độ phân giải: 0.1 um

- Độ cong tối thiểu: 1.5mm (F) hoặc 3mm (N)

- Đường kính đo tối thiểu: Phi 7mm (F) hoặc phi 5mm (N)

- Kích thước: 113.5mm x 54mm x 27mm

- Trọng lượng: 110g

Cung cấp bao gồm: Máy chính, 2xAAA pin, cáp USB, dĩa CD, miếng mẫu sắt, miếng mẫu nhôm, Bộ mẫu chuẩn, hộp đựng.